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“颗粒、粉体、膜(P3)分析与表征研讨会”

来源:未知  发布时间:2019-08-14 00:00  点击量:

  材料表征领域的领导者Micromeritics麦克仪器公司将举办《颗粒、粉体、膜(P3)的分析与表征技术研讨会》,分享国际领先的材料表征技术及实际应用,为用户的材料分析与表征提供完整性解决方案。诚挚邀请您出席本次研讨会!

  时间:2019年9月19日全天

  地点:上海大华锦绣假日酒店

  费用:免费

  内容:

  颗粒、粉体、膜的特性与综述;

  颗粒粒度分析:电阻法,X沉降法与亚筛分法

  颗粒形态分析:动态图像法

  颗粒粉体分析的样品制备:取样,缩样与分散

  孔径分析:气液与液液孔径分析方法

  粉体流动性分析

  咨询电话:021-51085884-807

  报名网址:https://yoopay.cn/event/14505286

  研讨会主要主讲人:


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